赛默飞世尔科技推出Helios MX1 PFIB-SEM,使半导体制造商能够探测到传统技术无法观测的微观缺陷。该设备通过结合等离子聚焦离子束与扫描电子显微镜技术,为芯片研发与良率提升提供了关键的纳米级分析能力。