JEOL 推出了其宽离子束研磨截面抛光仪的新配置,该设备可制备无损伤的高质量样品截面。对于材料科学和半导体领域的专业人士而言,这能显著提升电子显微镜分析的精度,并减少样品制备中的人为假象。